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Dektak XTL探针式轮廓仪
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探针式轮廓仪系统Dektak XTL
Dektak XTL探针式轮廓仪系统 严格质量保证与质量控制下,获得300毫米zei优性能探测 Bruker公司的新型Dektak XTL™探针式轮廓仪系统可容纳多达350毫米x350
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Dektak XTL 探针式表面轮廓仪
Dektak XTL Stylus Profiler System Bruker’s new Dektak XTL™ stylus profiler accommodates
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KLA台阶仪 D-300 探针式 表面轮廓仪
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bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站
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Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT
Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT一、概述布鲁克DektakXT (探针式表面轮廓仪)设计创新,实现了更高的重复性和分辨率,垂直高度重复性
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Alpha-Step D-500台阶仪
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Alpha-Step D-600 台阶仪
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Dektak XT台阶仪
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提到了过去四十年Dektak技术创新,更加巩固了其
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布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提到了过去四十年Dektak技术创新,更加巩固了其
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